在半导体封装键合领域,键合界面的一系列力学行为以及键合的可靠性都与IMC存在密切的关系。IMC含量过低时,金属间原子渗透扩散程度低,结合程度不够,容易脱焊;IMC含量过高时,会导致脆性增大,影响焊点机械强度及寿命。因此,IMC含量测定在封装领域是非常重要的检测项目。
C600是专门面向IMC含量测定应用开发的流程化测量设备,软件集图像采集、图像处理、测量与分析及可定制报告于一体,以“焊球图像→IMC识别→含量测定→批量报告→品管统计”流程实现数据流自动化。
一体化系统设计,与显微镜及外围硬件互联互通,交互友好;操作简单、上手快速,无需复杂培训;操作界面简洁,一键统计分析、自动图文报表。
(1)控制相机及编码、电动物镜转盘,实现放大倍数、标尺、图像三位一体联动。
(2)切换明场、暗场、偏光及微分干涉观察模式,实现样品多维立体拍照观测。
(3)调节并记录显微镜亮度、视场光阑及孔径光阑,拍照条件可再现。
随着芯片集成度的提高,焊球也缩小到直径仅数十微米,为保证测量准确性,需要在500X/1000X下拍摄焊球图像。而焊球高度一般为10um左右,受物镜景深限制,已无法在一个焦面上观察到焊球整体清晰的图像。为此,提供了多种景深扩展拍照模式,帮助用户获得高倍超景深图像。
景深扩展观察(EFI)
在不同的焦面上拍摄一组图像,系统从焦面各异的图像序列中自动搜索清晰区域,合成创建出完全对焦的超景深图像。
实时景深观察(LiveEFI)
仅需手动调节焦距,系统自动记录清晰区域,实现超景深拍照。无需关注拍摄焦面,漏焦随时补拍。
选购模块
电动调焦拍照 (AutoEFI)
控制电动调焦组件自动拍摄等距焦面图像序列,在合成超景深图像的同时,创建出一幅3D图像,可进行3D高度交互测量。
IMC含量测定首先需确定焊球面积;不同工艺下,焊球图像的可识别性有较大差别。为快速准确的计算焊球面积,软件提供了多种工具,可自动识别或手动勾勒焊球边界。
自动边界识别
软件自动对图像进行分析,根据焊球的颜色及形态特征自动识别焊球边界。
圆工具
当图像对比度不足无法自动识别且焊球接近圆形时,使用圆工具勾勒。
椭圆工具
当图像对比度不足无法自动识别且焊球接近椭圆圆形时,使用椭圆工具勾勒。
多边形工具
当焊球形状特殊且无法自动识别时,使用多边形工具勾勒。
软件采用识别Non-IMC的方式来反向计算IMC含量,降低识别难度,减少人为误差。支持人工分割或预设阈值分割两种方式,兼顾精度与效率。
人工分割 每幅图像单独分割提取,提升精度 | 预设阈值分割 自动以预设阈值分割提取,提升效率 |
预设阈值分割模式与拍照条件再现功能配合使用,可以确保不同样品的拍照条件、提取方式完全相同,从而在减少人为测量误差的同时,提升工作效率。
单图处理模式,仅对工作区当前激活的文档进行处理。
批量处理工作区模式,对当前工作区打开的所有图像进行批量处理。
批量处理文件夹模式,对选定文件夹下的所有图像进行批量处理。
软件完成测量后可同时输出:IMC含量、non-IMC含量、最大单个non-IMC占比、焊球尺寸等多项监控参数。用户还可根据工艺要求设置控制规格,软件自动判断测量结果是否合格。
软件提供多种不同的数据输出方式,应对各种不同的报告需求。
图像标签
将测量结果以标签的形式直接贴在图像文档中,方便快速查看。
Word检测报告
可自定义的Word图文报告,丰富的数据,友好的展现形式,方便存档及正式发布。
CSV数据文档
以csv格式导出的数据文档,详尽快速,方便管理系统抓取,实现检测数据的SPC管控。
选购电镜(EM)模块,软件自动解析日立、FEI、TESCAN及日本电子等多种电镜所拍照片的放大倍数和标尺信息,可直接测量分析,无需额外标定,避免标定带来的人为误差。
除了专业的IMC测量,软件还提供多种常规测量模块,用于解决用户专业领域外的其他测量应用。
比对测量 (Reticule)
提供多种辅助线,可自定义类型、间距、位置及颜色等参数,帮助您快速地进行定性比对测量。
影像测量
支持多种测量工具实时动态/静态测量;支持OneToOne/ AllInOne多图测量;支持测量工具颜色个性化设置;支持图文并茂的通用Excel报表,可在软件端设置报告抬头。
自动线宽测量
通过颜色对比,智能拟合被测物边界,计算其最大宽度、最小宽度、平均宽度及平行度,减少人为测量误差。
(1)抓拍图像保存:随拍即存,自动归档到指定目录;
(2)图像序列存储:批量存储,高速存储于设定路径;
图像拼接 (MIA)
手动移动载物台,拍摄样品不同区域,拼接成高清大视域图像,消除显微镜视野大小的限制。
实时图像拼接(Live MIA)
仅移动载物台上的XY旋钮即可方便而快捷地拼接图像,实现大视野图像的实时拼接。
选购模块
电动拍照(AutoMIA)
软件控制高精度电动台对设定视野进行扫描,无需人工干预,自动获得大视野图像。
通过控制电动Z轴的升降及实时图像识别,实现快速地样品自动准确聚焦。
联合控制电动台和聚焦组件,仅需设置拍照路线,软件多点MIA+EFI联动,获得大视野超景深图像。特别是针对同规格多个样品多点焊球检查需求,配置首件样品拍照点位,即可实现全部样品全部焊球的批量拍照和测量,提高工作效率。
弹坑测试,弹坑检测,IMC测量,IMC分析,芯片弹坑试验
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